日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型

產(chǎn)品型號(hào)：K050
更新時(shí)間：2025-04-23

簡要描述：日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 KITA K050 是介于微型化與高負(fù)載之間的平衡型彈簧探針
以 0.50mm針徑和 500-800gf接觸壓力為核心特點(diǎn)，適用于需要中等密度排布且兼顧電流承載能力的半導(dǎo)體測試場景。

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產(chǎn)品詳情

深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K050 產(chǎn)品特點(diǎn)如下：

日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K050與標(biāo)準(zhǔn)型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負(fù)載，使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對(duì)于每個(gè)間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負(fù)載。您可以選擇適合您需求的型號(hào)。

KITA K050 是介于微型化與高負(fù)載之間的平衡型彈簧探針，以 0.50mm針徑和 500-800gf接觸壓力為核心特點(diǎn)，適用于需要中等密度排布且兼顧電流承載能力的半導(dǎo)體測試場景。

1. 設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

① 高可靠性接觸

雙層彈簧結(jié)構(gòu)：內(nèi)層提供初始接觸力，外層承擔(dān)高負(fù)載，避免單點(diǎn)疲勞失效。

冠形針頭設(shè)計(jì)：多點(diǎn)接觸模式，穿透焊盤氧化層的同時(shí)減少劃傷風(fēng)險(xiǎn)。

② 適應(yīng)性優(yōu)化

可調(diào)行程：支持定制化行程（1.8-3.0mm），適配不同PCB厚度公差。

防卡死導(dǎo)向：特氟龍涂層導(dǎo)向套，減少摩擦導(dǎo)致的卡針問題。

③ 信號(hào)完整性

低電感設(shè)計(jì)：＜1nH（1MHz下），適合高速數(shù)字信號(hào)（如DDR5）測試。

2. 典型應(yīng)用

功率模塊測試：

GBT/SiC模組的柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)測試（5A電流需求）。

電動(dòng)汽車逆變器PCB的循環(huán)耐久性驗(yàn)證。

高密度PCB檢測：

服務(wù)器主板PCIe插槽的阻抗連續(xù)性檢查。

5G基站射頻模塊的焊點(diǎn)導(dǎo)通性測試。

3. 核心參數(shù)

特性	參數(shù)值/描述
針徑	0.50 mm（平衡尺寸與強(qiáng)度）
額定電流	5A（瞬態(tài)峰值可達(dá)8A）
工作負(fù)載	500-800gf（穩(wěn)定接觸氧化表面）
行程范圍	2.0-2.5 mm（優(yōu)化緩沖行程）
接觸電阻	≤25mΩ（鍍金觸點(diǎn)，低衰減）
機(jī)械壽命	≥80萬次（標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載）
耐溫范圍	-40°C ~ +150°C（高溫可選型號(hào)）

4. 核心型號(hào)參數(shù)對(duì)比

型號(hào)	額定電流	最大負(fù)載 (gf)	行程 (mm)	針徑 (mm)	特點(diǎn)
K039	3A	300-500	1.5-2.0	0.39	微型化設(shè)計(jì)，高密度測試
K050	5A	500-800	2.0-2.5	0.50	平衡負(fù)載與壽命
K075	7A	800-1200	2.5-3.0	0.75	高電流/高耐久性
K100	10A	1200-1500	3.0-4.0	1.00	強(qiáng)負(fù)載，工業(yè)級(jí)應(yīng)用